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Maria F Ebel

Maria F Ebel

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Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie37 %
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
By: H. J. Dudek, M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel, M Grasserbauer
Publisher: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
No Review Yet
₹6,728
₹4,239
Binding:
Paperback
Release:
06 Dec 2011
Language:
German
Available
Ships within 12-14 Days Explain..
2.
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPSNR
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
By: Maria F Ebel, Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek
Publisher: De Gruyter
No Review Yet
₹14,288
Binding:
Hardback
Release:
31 Dec 1986
Language:
German
International Edition
Ships within 24-26 Days Explain..
Free Shipping in India and low cost Worldwide.
3.
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPSNR
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
By: Maria F Ebel, Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek
Publisher: De Gruyter
No Review Yet
₹12,757
Binding:
Digital (delivered electronically)
Release:
31 Dec 1986
Language:
German
Out of Stock
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